納米粒度分析儀SZ902SZ902型-北京斯達沃科技有限公司

產品特點：SZ902納米粒度分析儀是繼在SZ901系列后推出的全新一款高性能動態(tài)光散射納米粒度儀產品，加持了新研發(fā)的全自動聚焦技術，實現(xiàn)了對納米樣品的多角度測量，無需稀釋即可對不同濃度納米樣品的粒度及Zeta電位快速測量，十分適合各種有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等多種樣品的粒度及Zeta電位研究級分析測試。納米粒度分析儀SZ902

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SZ902型納米粒度分析儀SZ902的詳細資料：

SZ902納米粒度分析儀產品介紹：

SZ902納米粒度分析儀是繼在SZ901系列后推出的全新一款高性能動態(tài)光散射納米粒度儀產品，加持了新研發(fā)的全自動聚焦技術，實現(xiàn)了對納米樣品的多角度測量，無需稀釋即可對不同濃度納米樣品的粒度及Zeta電位快速測量，十分適合各種有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等多種樣品的粒度及Zeta電位研究級分析測試。

主要特點：

◆包含經典90°、背向和前向動態(tài)光散射技術測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm–15μm

◆激光多普勒電泳技術用于Zeta電位分析，可準確預知分散體系的穩(wěn)定性及顆粒團聚的傾向性

◆加持自動恒溫技術的最高功率可達50mW,波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用

◆余弦擬合相位分析法（CF-PALS）優(yōu)于目前的頻譜分析法（FFT）和傳統(tǒng)的位相分析法（PALS）

◆激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術

◆信號光與參考光的光纖合束及干涉技術

◆集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器

◆常規(guī)溫度控制范圍可達-15°C~120°C,精度±0.1°C

◆新一代高速數(shù)字相關器，動態(tài)范圍大于1011

◆冷凝控制–干燥氣體吹掃技術

產品性能：

測量原理	動態(tài)光散射（DLS）、靜態(tài)光散射（SLS）、電泳光散射（ELS）
粒徑測量角度	90°,173°（高濃度），12°（Zeta電位）
粒徑測量范圍	0.3nm -15um*
粒徑測量最小樣品量	3ul*
粒徑測量最小樣品濃度	0.1mg/ml
粒徑測量最大樣品濃度	40%/wv
檢測點位置	距入射點0~5mm可調
檢測點定位精度	0.01mm
Zeta電位技術	余弦擬合位相分析法（CF-PALS）
適用Zeta電位測量的粒徑	任意范圍，無明確限制
遷移率范圍	1nm - 120μm*
最大電導率	270mS/cm
電導率準確度	±10%
電極	插入式平板電極、U型毛細管電極
分子量范圍	340Da - 2x107Da
溫度控制范圍	-15°C - 120°C
溫度控制精度	±0.1°C
光源	集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的最大功率50mW, 波長638nm固體激光器
相關器	高速數(shù)字相關器，自適應通道配置
檢測器	高靈敏度APD
樣品池	12mm比色皿、3μL毛細管超微量樣品池、40μL微量樣品池（多種可選）
系統(tǒng)重量	16kg
外形尺寸	365mm x 475mm x 180mm (LxWxH)

注：* 取決于樣品及樣品池選件

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